CEP – Controle Estatístico do Processo – Avançado

Objetivo:     

Permitir que os profissionais de uma organização, possam identificar os problemas nos processos de manufatura ou administrativo, analisar suas distorções através de cartas de controle e propor soluções dentro dos objetivos da organização.

Público Alvo:         

Gerentes, Supervisores, Chefes, Engenheiros, Técnicos e Auditores das áreas da Qualidade, Manufatura, Produto, Logística, Produção,…

Carga Horária:       24 horas

Programa:

1 – Introdução à Melhoria Contínua e ao Controle Estatístico do Processo

1.1    Introdução a estatística básica operacional
1.2    Prevenção versus Detecção
1.3    Um sistema de Controle do Processo
1.4    Fontes e Componentes de Variação do processo
1.5    Conceitos de Variação : Causas Comuns, Especiais
1.6    Ações no local e ações no sistema
1.7    Controle do processo e capacidade do processo
1.8    Como pesquisar diferenças especiais entre dois ou mais processos
1.9    O Ciclo de melhoria e controle do processo
1.10  Cartas de Controle : Ferramentas para o controle do processo
1.11  Introdução e benefícios das Cartas de Controle
1.12  Diário de Bordo e Sinais Estatísticos
1.13  Gráficos de controle para Variáveis e Atributos

2 – Cartas de Controle para variáveis

2.1  Cartas de Médias e Amplitudes (X e R )
2.2  Cartas de Médias e Desvios-Padrão (X e s )
2.3  Cartas de Individuais e Amplitude Móvel (X-Rm)
2.4  Cartas de Medianas (X e R )

 -> Coleta de Dados
-> Cálculo dos Limites de Controle
-> Interpretação para Controle do Processo
-> Interpretação para Capacidade do Processo
-> Abordagem alternativa para Carta de Medianas

2.5  Compreensão de Capacidade do Processo e Desempenho do Processo com dados de Variáveis

 -> Definições e termos usados em processos
-> Definição de Medidas do Processo
-> Descrição de Condições e Hipóteses
-> Uso sugerido das Medidas do Processo

3 – Cartas de controle para atributos

3.1  Carta “ P ” para proporção de unidades Não-Conformes
3.2  Carta “ np ” para número de unidades Não-Conformes
3.3  Carta “ C ” para número de Não-Conformidades
3.4  Carta “ U ” para número de Não-Conformidades por unidade

4.  Análise de sistemas de Medição

4.1  Introdução
4.2  Método da Média e Amplitude

– > Condução do estudo para o sistema de medição
– > Cálculos estatísticos
– > Análise de resultados
– > Exemplos

 4.3. Estudo de capacidade do Sistema de Medição R&R:

 – > Repetibilidade
– > Reprodutibilidade
– > Composição com Variação do Processo
– > Índice de Capacidade

5.  Estudo Completo da Capacidade doProcesso

5.1 Mini capacidade do processo
5.2 Capacidade do Processo : Cp, Cpk
5.3 Capacidade do Processo para Curto Prazo : Pp, Ppk
5.4 Capacidade da Máquina-Equipamento : Cm, Cmk
5.5 Melhoria da Capacidade do Processo: Estudo das Causas Comuns e Especiais.

6.  Gerenciamento e Implementação do Controle Estatistico

6.1 Monitoramento da melhoria
6.2 Solução de Problemas

Metodologia:         

  •  O treinamento está divido em 6 módulos para o aprendizado.
  •  Exposição dos conceitos estatísticos para CEP Básico, Avançado e Fundamental.
  •  Aplicação de exercícios teóricos e práticos individuais e em grupo.
  •  Utilização de cadernos de exercícios e minitab.
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